IEEE DESIGN & TEST
SCIE
ISSN:2168-2356
e-ISSN:2168-2364
详情
简称:
IEEE DES TEST
出版商:
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
JCI:
0.4
周期:
Bimonthly
影响指数:
1.800-2.000
国家:
UNITED STATES
年发文量:
87
国人占比
9.54%
学科:
COMPUTER SCIENCE
是否在库:
是
中科院预警:
无
国内分区（升级版）:
—
大类:
计算机科学 4区
小类:
-
H指数:
—
自引率
0.00%
是否OA
NO
Cite Score:
—
SNIP
—
SJR:
—
Scopus学科:
COMPUTER SCIENCE
分区：Q3
排名：—
百分位：—
5年影响指数趋势图
1.527
5年前
2.223
4年前
2.000
3年前
1.900
2年前
1.900
近1年