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JOURNAL DETAIL
JOURNAL OF MICRO-NANOPATTERNING MATERIALS AND METROLOGY-JM3

JOURNAL OF MICRO-NANOPATTERNING MATERIALS AND METROLOGY-JM3

SCIE
ISSN:1932-5150
e-ISSN:1932-5134

详情

简称:
J MICRO-NANOPATTERN
出版商:
SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
JCI:
0.35
周期:
Monthly
影响指数:
1.700-1.900
国家:
UNITED STATES
年发文量:
46
国人占比
8.70%
学科:
是否在库:
中科院预警:
国内分区(升级版):
大类:
物理与天体物理 3区
小类:
-
H指数:
自引率
13.33%
是否OA
NO
Cite Score:
SNIP
SJR:
Scopus学科:
分区:—
排名:—
百分位:—

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