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JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS

JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS

SCIE
ISSN:0923-8174
e-ISSN:1573-0727

详情

简称:
J ELECTRON TEST
出版商:
SPRINGER
JCI:
0.24
周期:
Quarterly
影响指数:
1.200-1.400
国家:
UNITED STATES
年发文量:
55
国人占比
16.27%
学科:
ENGINEERING
是否在库:
中科院预警:
官网:
国内分区(升级版):
大类:
工程技术 4区
小类:
-
H指数:
自引率
18.18%
是否OA
NO
Cite Score:
SNIP
SJR:
Scopus学科:
ENGINEERING
分区:Q4
排名:—
百分位:—

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