JOURNAL OF X-RAY SCIENCE AND TECHNOLOGY
SCIE
ISSN:0895-3996
e-ISSN:1095-9114
详情
简称:
J X-RAY SCI TECHNOL
出版商:
IOS PRESS
JCI:
0.42
周期:
Bimonthly
影响指数:
1.300-1.500
国家:
NETHERLANDS
年发文量:
85
国人占比
63.28%
学科:
PHYSICS
是否在库:
是
中科院预警:
无
国内分区（升级版）:
—
大类:
医学 4区
小类:
-
H指数:
29
自引率
17.65%
是否OA
NO
Cite Score:
2.4
SNIP
0.666
SJR:
0.351
Scopus学科:
Radiation
分区：Q3
排名：27/50
百分位：47%
5年影响指数趋势图
1.535
5年前
2.442
4年前
3.000
3年前
1.700
2年前
1.400
近1年